|
| YX-JX40 |
儀器用途：
用于PCB電路板金相分析微切片的測量和分析。
儀器特點：
1.光學(xué)系統(tǒng)采用無限遠色差校正光學(xué)系統(tǒng)。
2.軟件通俗易懂，可實現(xiàn)點、線、圓弧、半徑、直徑、角度等測量，可根據(jù)客戶要求定制軟件功能。
規(guī)格參數(shù)：
上照明系統(tǒng)：反射燈室、暖色
下照明系統(tǒng)：透射燈室、暖色
CCD相機
雙層機械載物：190x140m
m移動范圍：750x50mm
雙層機械載物臺：175x145mm
移動范圍：76x42mm
型號
YX-JX30
YX -JX40
光學(xué)放大倍率
50x~500x
50x~500x
目鏡
10x（帶測微尺）
10x（帶測微尺）
物鏡
5x、10x、20x、50x
5x、10x、20x、50x
轉(zhuǎn)換器
四孔滾珠式轉(zhuǎn)換器
內(nèi)定位五孔轉(zhuǎn)換器
照明系統(tǒng)
落射照明裝置：高亮度LED燈照明，亮度可調(diào)。
300萬像素高清攝像機
300萬像素高清攝像機
測量精度
0.0012mm
0.0012mm
載物臺
樣品高度
最大樣品高度28mm
最大樣品高度28mm
測量軟件
YX-J
YX-J
主營離子污染測試儀,自動影像測量儀,尺寸快速測量儀,2.5次元測量儀
廣東源興光學(xué)儀器有限公司 地址：東莞市萬江新和電化路2號合喜工業(yè)園
聯(lián)系人：廖小姐 手機：13528548612電話：0769-38807533 傳真：0769-38826322/38826321
