許多ROHS儀器用戶大概都不太清楚這款儀器是基于怎樣的應(yīng)用原理來完成作業(yè)的，這就是今天我們要在這里為大家介紹的XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)缺點。X射線熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量，在有關(guān)X射線熒光光譜儀技術(shù)原理我們有更多的關(guān)于X射線熒光光譜儀是如何完成ROHS管控元素的分析工作的相關(guān)介紹。
下面讓我們來了解一下XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)缺點都有那些？
XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)點主要有六個組成部分，他們分別是：
1.分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，60～200分鐘就可以測完樣品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl、待測元素。
2.X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定。
3.非破壞分析在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
4.X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。
5.分析精密度高。
6.制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
而XRF-X射線熒光光譜儀的缺點卻只有三項，他們分別是：
1.難于作jue對分析，故定量分析需要標樣。
2.對輕元素的靈敏度要低一些。
3.容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
