點(diǎn)擊圖片放大 |
|
||||||||||||||||||||||||
詳情介紹
型號(hào):YX-JX40
儀器用途: 用于PCB電路板金相分析微切片的測(cè)量和分析
儀器特點(diǎn): 1.光學(xué)系統(tǒng) 采用無(wú)限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng) 2.軟件通俗易懂,可實(shí)現(xiàn)點(diǎn)、線、圓弧、半徑、直徑、角度等測(cè)量,可根據(jù)客戶要求定制軟件功
技術(shù)參數(shù):
|
|||||||||||||||||||||||||
<< 上一頁(yè):剝離強(qiáng)度測(cè)試儀YX-BL50 || 下一頁(yè):金相顯微鏡YX-JX3>> |