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  • 槽殘厚測(cè)試儀 YX-CH15

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詳情介紹

型號(hào):YX-CH15

儀器用途:

用于PCB電路板V型槽殘厚測(cè)量及V型槽深度測(cè)量。

儀器特點(diǎn):

1. 測(cè)量數(shù)據(jù)液晶。

2. 刀具采用硬質(zhì)合金刀,使用壽命長(zhǎng)。

3. mm/inch公制和英制自由互換

技術(shù)參數(shù)

1. 采用高精度測(cè)量百分表和數(shù)顯表。

2. 公英制可切換。

3. 刀具采用硬質(zhì)合金刀,使用壽命長(zhǎng)。

4.  上下測(cè)量刀具道軌式滑行,精準(zhǔn)度高。

技術(shù)參數(shù)

項(xiàng)目

技術(shù)參數(shù)

精度

0.01mm;

刀刃

0.15mm;

整機(jī)尺寸(L×W×H)

500mm×505mm×400mm

重量  

15KG

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